简单介绍：
SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，专用于测量小样品的四探针探头，可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
详情介绍：
SP-601型方形四探针探头
SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头，专用于测量小样品的四探针探头，可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
SP-601型方形四探针探头特性及规格：
1；特制之手握式探笔
2；球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3；探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4；探头使用寿命长
5；探针间距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
SP-601型方形四探针探头
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型号 |
曲率半径 |
压力 |
探针间距 |
探针排列 |
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SP-601 |
0.5mm |
100g |
1.59mm |
方形 |
